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          X射线镀层测厚仪

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          X射线镀层测厚仪 
          使用X荧光射线可以非接触非破坏快速分析膜厚
          * 兼容Microsoft Windows操作系统之软件
          * 可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例
          * 药水分析功能.
          * 拥有多种 Filter 选择性
          * 定点自动定位分析
          * 光径对准全自动化
          * 自动显示量测参数
          * 2D/3D, 任意位置量测控制
          * 雷射对焦与自动定位系统
          * 温控稳定延长校准时效
          * 20X 倍放大摄影系统.
          * X-ray运作待命睡眠控制                                       
          * 全进口美日系零件价格优势以及快速服务时效
          * 彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报告编辑应用

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